文档信息
- 文件大小
- 6.95 MB
- 文件类型
- .rar
- 文件等级
- ★★★☆☆
- 关 键 词
- GB/T 40066
内容简介
GB/T 40066-2021 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法
GB/T 40066规定了原子力显微镜法(AFM)测量氧化石墨烯厚度的样品制备.测量步骤及结果计算等。
GB/T 40066适用于片径尺寸不小于300 nm的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 27760利用Si111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 30544.13纳米科技术语第13部分:石墨烯及相关二维材料
JJF1351扫描探针显微镜校准规范
3术语 和定义
GB/T 27760 ,GB/T 30544.13和JJF 1351界定的术语和定义适用于本文件。为了便于使用,以下重复列出了GB/T 30544.13中的某些术语和定义。
3.1氧化石墨烯graphene oxide;GO
对石墨进行氧化及剥离后所得到的化学改性石墨烯,其基平面已被强氧化改性。
注:氧化石墨烯是具有高氧含量的单层材料，通常由碳氧原子比(与合成方法有关,一般约为2.0)表征。
[GB/T 30544.13- 2018,定义 3.1.2.13]
4原理与计算方法
4.1 原理
将氧化石墨烯样品平铺在基底上.利用AFM表征氧化石墨烯与基底的表面形貌,然后借助软件进行背景扣除,获得轮廓线,测量上台阶和下台阶之间的高度差,即为氧化石墨烯样品的厚度。计算高度差的方法分为4.2和4.3两种。
4.2 计算方法一
通过最小二乘法对轮廓线中上、下台阶的各点坐标进行线性拟合,得到两条拟合直线(见图1)和对应的拟合参数a.,br.a2,b2。通过式(1)计算上下台阶的高度差H,即为上直线和下直线在xτ点的距离。
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