0术语和定义 .
本章列出的术语和定义是来自于现有CIE文件(CIE 53)和/或CIE词汇。在一些情况下,忽略了部分与该文件无关的定义内容。
0.1(光辐射)探测器detector(of optical radiation)
人射光辐射在其上能够产生可测物理效应的设备。
0.2光电探测器photoelectric detector
光度辐射探测器,利用辐射与物质之间的相互作用,使得物质吸收光子,随之电子从稳定状态释放出来而产生电势或电流,或电阻的变化,不包括由温度变化引起的电现象。
0.3.辐射热探测器thermal detector of radiation
热(辐射)探测器thermal(radiation) detector
光度辐射探测器,在其内部由于吸收辐射部分的升温产生可测物理效应。
0.4光电发射元件,光电管photoemissive cell, phototube
光电探测器,利用光学辐射引起电子发射。
0.5光电倍增管photomultiplier
光电探测器，包括光阴极、阳极和电子倍增器件。它利用倍增管电极或光阴极与阳极之间的二次放射。
0.6光敏电阻,光导管photoresistor , photoconductive cell
一种光电器件,利用通过吸收光辐射释放的电子所产生的电导变化。
0.7光电二极管photodiode
光电探测器,在其内部通过在两个半导体之间p-n结周围或半导体和金属之间的结点周围吸收光辐射而产生光电流。
0.8(辐射)温差热耦(radiation)thermocouple[(radiation)thermopile]
光学辐射的热探测器,在其内部电动势源于单-热伏结(多 个热伏结) ,并用于测试被吸收的辐射产生的热效应。
2.2电校准 辐射计
在这种绝对辐射计中,辐射功率是通过与电发热能力对比而测量的。这些测量仪器的构造和使用
在CIE出版物中有详细描述,因而这里只给出简要介绍。这种辐射计中的探测器由以下基本元件组成:
a)辐射吸收元件, 可以是-一个黑色平板或-一个孔(后者如有效孔辐射计(Willson, 1973,1980)).
在该元件中,被吸收的辐射功率会导致温度上升。
b)电加热器(线绕式(Gillham, 1962)或沉积薄膜式(Blevin and Brown, 1967 ; Bischoff, 1968;Geist, 1972 ; Boivin和Smith, 1978; Hengstberger, 1977a; Phelan and Cook, 1973; Geist和Blevin, 1973)),在这里可调整且精确测定电发热能力。
c)温度感应器,用来比较辐射发热温度和电发热温度。这个感应器可以是一个热电堆、测辐射热仪或焦热电探测器。
温度感应器通常被用作零探测器,显示辐射发热温度与电发热温度相等。在黑暗期间,经常会将辐射改为电发热。对电功率进行调整,直至温度感应器显示辐射和电发热相等。这时,电功率可通过测量发热电压和热电流而得到精确的确定。然而,存在一些因素导致发热的非等值性,需要修正。其中的主要四个因素如下:
2.2电校准 辐射计
在这种绝对辐射计中,辐射功率是通过与电发热能力对比而测量的。这些测量仪器的构造和使用
在CIE出版物中有详细描述,因而这里只给出简要介绍。
这种辐射计中的探测器由以下基本元件组成:
a)辐射吸收元件,可以是一 一个黑色平板或-一个孔(后者如有效孔辐射计(Willson, 1973,1980))。在该元件中,被吸收的辐射功率会导致温度上升。
b)电加热 器(线绕式(Gillham, 1962)或沉积薄膜式(Blevin and Brown, 1967 ; Bischoff, 1968;Geist, 1972;Boivin和Smith, 1978; Hengstberger, 1977a; Phelan and Cook, 1973 ; Geist和Blevin, 1973)) ,在这里可调整且精确测定电发热能力。
c)温度感应器,用来比较辐射发热温度和电发热温度。这个感应器可以是-一个热电堆.测辐射热仪或焦热电探测器。
温度感应器通常被用作零探测器,显示辐射发热温度与电发热温度相等。在黑暗期间,经常会将辐射改为电发热。对电功率进行调整,直至温度感应器显示辐射和电发热相等。这时,电功率可通过测量发热电压和热电流而得到精确的确定。然而,存在一些因素导致发热的非等值性,需要修正。其中的主要四个因素如下:
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